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Hi-Drop Tester

 Hi-DropTester II

 落下測試資料記錄系統可加速測試效率:

 

Hi-Drop為巨克富科技研發出的一套針對PCB落下測試的專用高速多通道電阻量測系統,並符合JEDEC規範。Hi-Drop量測速度最高可達每通道1 MS/s,解析度可達16-bit並具備抗雜訊功能,可確保量測資料的準確性。系統可與落下測試機同步量測,各通道NG條件可獨立設定,並具備Event記錄功能,測試波型資料可自動儲存。

系統特色:
  • 提供高速電阻量測,最高可達每通道1 MS/s。
  • 採用PXI高規格的量測主機,最多可支援64-channel。
  • 自動NG判定,符合JEDEC準則。
  • 高精度且抗雜訊能力強大。
  • 可與現有落下測試機整合,達到自動測試功能。
  • 可結合加速規模組,執行高於10000 g落下之電阻與加速度量測。
  • 可結合應變模組,同時量測電阻與應變資料。
  • 及時分析Peak 加速度、速度、Duration。
  • 可做多次Drop之趨勢分析。
  • 資料即時顯示、收錄、分析、各式報表產出於一身,有效提高工作效率。

 規格:

系統架構 PXI Express

 

 
 NG即時判斷
Fail準則判斷 

 

機箱插槽數 8
通道數 4N (N ≦ 16), Max. 64 channels
連續取樣速度 Max. 50kS/ch (@16 ch)
觸發取樣速度 Max. 1 MS/Ch
電阻量測解析度 16 bit
電阻量測檔位 100W, 1kW, 10kW, 100 kΩ, 1MΩ, 10MΩ*註1
電阻波型紀錄 支援
長時間連續錄 支援
量測方式 連續擷取 或 外部觸發擷取

 
 

加速度、速度、Duration分析
 

NG判斷條件 每通道獨立設定
各通道Fail準則 彈性設定(X次Drop有Y次NG)
與落下試驗機同步觸發 支援
 
濾波功能
Low pass, High pass, Band pass
各通道濾波頻率獨立設定
統計運算 支援
虛擬通道 支援
圖表格式 Y-T Graph, X-Y Graph, Bar Chart, Trend
Event歷程紀錄 支援
報表輸出格式 EXCEL, ASCII

  

Drop之趨勢分析 

外部觸發模組 高速光電感測器/磁感測器


高g值加速度模組(Option)
 

支援IEPE或Charge或Bridge Type加速規
分析Peak 加速度、速度、Duration
多次Drop之趨勢分析
自動回饋調整落下高度(Option) 支援
支援語言 英文
螢幕機本需求 1280×768 resolution
支援作業系統 Windows XP, WIN7, WIN8
  *註1: 測試電壓可提升至10V時,量測範圍可達10 MΩ
 
選配項目:
高g值加速規:10000 g、20000 g
加速度量測模組:1M S/s速度、1通道 (會佔用1-ch電阻量測通道)
應變量測測模組:100 kS/s/Ch速度、8通道

 

產品規格
 
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